References

1

E. O. Fischer and H. P. Fritz, Advanc. Inorg. Chem. Radiochem. (1959), 1, 56.

2

B. T. M. Willis (1960), Acta Cryst. 13, 1880.

3

H. P. Lüthi, P. E. M. Siegbahn, J. Almlöf, K. Faægri Jr. and A. Heiberg (1984), Chem. Phys. Lett. 111, 1.

4

P. Seiler and J. D. Dunitz (1979), Acta Cryst. B 35, 1068.

5

R. K. Bohn and A. Haaland (1966), J. Organomet. Chem. 4, 470.

6

D. M. Ceperley and B. J. Alder (1980), Phys. Rev. Lett. 45, 566.

7

G. B. Bachelet, D. R. Hamann and M. Schlüter (1982), Phys. Rev. B, 26, 4199.

8

To appear in Identification of Defects in Semiconductors, ed. M. Stavola, Semiconductors and Semimetals, treatise editors, R. K. Willardson, A. C. Beer, and E. R. Weber, Academic Press.

9

F. Takusagawa and T. F. Koetzle (1979), Acta Cryst. B 35, 1074.

10

H. Kock and P. Jørgensen (1996), J. Chem. Phys. 104, 9528.